Fehlersuche auf Integrierten Schaltkreis

Beschreibung / Inhalt
Das vorliegende Dokument beschäftigt sich mit der Fehlersuche auf integrierten Schaltkreisen (ICs). Es werden verschiedene Testmöglichkeiten, Prüfstrategien und Prüfmittel vorgestellt, um die Ursachen für Ausfälle herauszufinden und Ausschussraten zu minimieren. Im ersten Teil des Dokuments wird auf das Testen analoger Schaltkreise eingegangen. Hierbei wird die Problematik der Vielzahl von verschiedenen analogen ICs und der damit verbundenen benötigten Testmethoden dargestellt. Im zweiten Teil des Dokuments geht es um das Testen digitaler ICs. Es werden Fehlerursachen und Fehlermodelle erläutert, sowie Testmuster und -strategien für kombinatorische und sequentielle Schaltungen vorgestellt. Ebenfalls wird das Testen digitaler Speicher beschrieben. Der Anhang enthält ein Literaturverzeichnis.
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Auszug aus Referat
Fehlersuche auf Integrierten Schaltkreisen 1. EHT - Referat Ronald Hasenberger 87bN 4. Dezember 1986 Inhaltsverzeichnis 1. Allgemeines 1 2. Testen analoger Schaltkreise 2 2.1 Informationsgehalt von Datenblättern 2 2.2 Allgemeine Messungen 3 2.2.1 Ein- und Ausgangswiderstandsmessungen 4 2.2.2 Messung von komplexen Ein- und Ausgangs- widerständen 4 2.2.3 Messung von kleinen Strömen 6 2.2.4 Messung von kleinen Spannungsdifferenzen 7 2.3 Prüfstrategien und Prüfmittel 8 3. Testen digitaler IC`s 10 3.1 Fehlerursachen und Fehlermodelle 10 3.1.1 Physikalische Fehlermöglichkeiten 11 3.1.2 Strukturorientierte Fehlermodelle 12 3.1.3 Funktionsorientierte Fehlermodelle 16 3.2 Testmustererzeugung 17 3.2.1 Testmuster für kombinatorische Schaltungen 17 3.2.2 Testmuster für sequentielle Schaltungen 20 3.3 Testen digitaler Speicher 22 3.3.1 Speichertestmuster 23 Anhang Literaturverzeichnis 26 1. Allgemeines Durch die immer größer werdende Integrationsdichte von integrierten Schaltkreisen (IS, IC) wird es für die Hersteller immer schwieriger, niedrige Ausschußraten zu erreichen. War es bei der Herstellung von Transistoren durchaus noch akzeptabel, wenn von 1000 Stück einer Ausschua war, so würde diese Fehlerrate bei heutigen IS, die bis zu 250000 Transistoren als Funktionseinheit zusammenfassen dazu führen, daa keiner dieser IC`s mehr funktionstüchtig wäre. Das Bewältigen dieser Probleme ist unter anderem dadurch möglich geworden, daa durch Messungen an den IC`s und geeignete Fehlermodelle ...
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